天瑞儀器 EDX8000L X熒光考古分析儀

天瑞儀器 EDX8000L X熒光考古分析儀

儀器介紹

EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的quan威部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據庫便可以達到斷代斷源的功效。同時，為了更好的利用X熒光分析儀器的無損測量特性，我公司根據行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測。

EDX8000L型儀器在測試陶瓷的同時亦可以測試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學成份和金屬鍍層厚度，做到一機多用，是古文物檢測的科學檢測儀器。中國歷史博物館、中國收藏家協(xié)會等古文物收藏部門都是其用戶。

技術指標

型號：EDX8000L     
測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99%
同時分析元素：同時可以分析30種以上元素
測量鍍層：鍍層厚度測量薄至0.01微米
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
測量時間：30s—200s 
管壓：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
輸入電壓：AC 110V/220V 
消耗功率：200W  
環(huán)境溫度: 15-26℃ 
相對濕度: ≤70%

標準配置

超薄窗大面積的yuan裝進口Fast SDD探測器
數(shù)字多道系統(tǒng)
可自動切換型準直器和濾光片
光路增強系統(tǒng)
內置高清晰攝像頭
加強的金屬元素感度分析器
智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
面光源
放大電路
高低壓電源
X光管
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型。
三重安全保護模式
外觀尺寸： 800×710×1360 mm
樣品腔尺寸：590×550×600mm
重量：280kg

應用領域

古陶瓷
古青銅器
古首飾
鍍層測厚

天瑞儀器 EDX8000L X熒光考古分析儀